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美國GE超聲直探頭SEB2
詳細(xì)信息品牌：美國GE 型號：-0° 加工定制：否 用途：探傷儀測厚儀探頭 是否進(jìn)口：是 產(chǎn)地：美國 美國GE超聲直探頭SEB2
主要特性
•獨(dú)立的發(fā)射器和接收器單元
•縱波垂直掃描
•小焦距探頭具有非常好的近場分辨率
•由于可研磨的塑料延遲線，即使在粗糙或彎曲的表面也有好的耦合性
•延遲線由一個(gè)金屬環(huán)保護(hù)以防磨損
•特別適合于聚焦區(qū)域內(nèi)剩余壁厚的測量
•加上特殊的延遲線（特殊產(chǎn)品）適合于在熱的表面上的測量
注釋：
粗體=首選探頭，帶簡短注釋說明
O= 提供探頭數(shù)據(jù)表
O= 提供DGS標(biāo)尺
關(guān)于表中數(shù)據(jù)的解釋，見第4頁中選擇標(biāo)準(zhǔn)。
關(guān)于聲束形狀見第37頁中聲束形狀編號。
*) 用于無衰減材料時(shí)規(guī)定的工作范圍上限。類型
[訂購號碼]a×b [mm] f [MHz] AB* [mm] N [mm] EB [mm] 聲束形狀
編號備注 草圖 特性帶寬：65% DA0.8G 20Ø 0.8 3-400 35 8 0.8-20/2 用于高衰減 類型15 特性帶寬：40% SEB1
SEB2
SEB2-0°
SEB4
SEB4-0°21Ø
7×18
7×18
6×20
6×201
2
2
4
43-400
2-1000
4.5-2000
1.5-2000
4-400020
15
30
12
2510
5
5
2.5
2.51-21/2
2-7×18
2-7×18-0
4-6×20
4-6×20-00°意味著
兩個(gè)單元的
公共角度是
0°
帶寬100%類型15
類型16
類型17MSEB2
MSEB4
MSEB4-0°
MSEB511Ø
3.5×10
3.5×10
9Ø2
4
4
52-400
1-1500
1.5-2000
0.5-2008
10
18
105
2.5
2.5
12-11/2
4-3.5×10
4-3.5×10-0
5-9/2SEB2KF5
SEB4KF8
SEB5KF38 Ø
8 Ø
8 Ø2
4
51.5-350
0.8-400
0.5-806
6
34
2
12-8/2
4-8/2
5-8/2SEB10KF3 5 Ø 10 0.3-140 3 0.5 10-5/2 類型18 SEZ5M5 3 Ø 5 0.6-50 3 1 5-3/2 固定電纜(2m) 類型19 合成單元，特性帶寬70% SEK2C 7×18 2 1.5-1500 15 4 2-7×18 類型15 MSEK2
MSEK411 Ø
3.5×102
41.5-450
1-20008
104
22-11/2
4-3.5×10類型16
附件描述 類型 備注 探頭電纜（2米）
耦合劑SEKG2
SEKM2
ZG-F用于SEB..,SEK..,MSEB..,
MSEK.., DA0.8G
用于SEB.KF.
見36頁
主要特性
•單晶探頭用于超聲脈沖的發(fā)射和接收
•通過水延遲通道進(jìn)行縱波或橫波的垂直或斜向掃描（非接觸測試）
•完全不漏水的版本設(shè)計(jì)，或者帶有固定的連接電纜，或者帶有水密封的連接插座（除Microdot外）
•牢固的金屬盒
•用通常采用的線聚焦和點(diǎn)聚焦方式增加了缺陷識別的能力
•使用具有較高頻率的聚合物探頭，從而對非常小的非均勻性具有非常高的探測能力。
探頭分為兩大類：接觸式和水浸式
接觸法探頭
直探頭---單晶
·被檢測件有規(guī)則外形和相對光滑的接觸表面
·接觸面或平或曲
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測
·適于穿透厚部件
·延遲塊用以提高近場分辨率
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·通常用于手動檢測
直探頭--雙晶
·接受發(fā)射單元用串?dāng)_擋板分開
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測
·近表面分辨率好，用于較薄部件
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·通常用于手動檢測
斜探頭
·晶片安裝在內(nèi)置的或者可更換的斜塊上
·利用折射讓縱波或者橫波沿確定角度傳播
·大多數(shù)標(biāo)準(zhǔn)探頭通過模式轉(zhuǎn)換產(chǎn)生橫波
·適于傾斜缺陷的檢測，如焊縫
·有單晶探頭和雙晶探頭
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·有時(shí)用于機(jī)械化或自動化檢測
水浸法探頭
水浸探頭
·在水中匹配好，效率高
·適于具有不規(guī)則表面的被檢測件
·通常用于機(jī)械化或者自動化檢測
·耦合一致性好，檢測重復(fù)性高
·大型零件可以采用探頭架，溢流法或者水射流法
·探頭聚焦可以增進(jìn)效果
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產(chǎn)品分類
