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美國Ge探傷儀斜探頭MUWB2N
詳細信息| 詢價留言品牌：美國Ge 型號：MUWB2N 加工定制：否 用途：用于接觸式檢測方法的探頭 是否進口：是 加工定制：否 美國Ge探傷儀斜探頭美國MUWB2N
美國GE探傷儀斜探頭 MWB..：用于小物體的測試。經常用于容器或鍋爐部分的焊接測試，特別是螺桿、螺釘和高應力機械零件的裂縫探測。
其它應用：腐蝕探測（如氣瓶內部）和管道上裝配焊縫的測試。
特性：小外形，小深度到中等深度時有窄的聲波場
注釋：
粗體=首選探頭，帶簡短注釋說明
= 提供探頭數據表
= 提供DGS標尺
關于表中數據的解釋，見第4頁中選擇標準。
關于聲束形狀見第37頁中聲束形狀編號。
1) 速率3255類型
[訂購號碼]a×b [mm] EB [mm] f [MHz] B 1) [Grad] AB* [mm] N [mm] 聲束形狀
編號備注 草圖 特性帶寬：40% MUWB2N
MUWB4N8×9 2
40-90
0-90與角度
有關15
304
22-8×9 對縱波和橫波，也有20×30mm 類型 MWB35-2
MWB45-2
MWB60-2
MWB70-2
MWB80-2
MWB90-28×9 2
2
2
2
2
235
45
60
70
80
9010-3300
5-3300
4-2900
4-2400
9-220015
15
15
15
15
164
4
4
4
4
42-8×9
2-8×9
2-8×9
2-8×9
2-8×9
-提供連接器
頂端:
MWB..-04
表面波類型23 MWB35-4
MWB45-4
MWB60-4
MWB70-4
MWB80-4
MWB90-48×9 4
4
4
4
4
435
45
60
70
80
907-5000
3-4600
3-4600
3-4200
5-1700
-30
30
30
30
30
322
2
2
2
2
24-8×9
4-8×9
4-8×9
4-8×9
4-8×9
-提供連接器
頂端:
MWB..-04
表面波類型23 合成單元，特性帶寬：70% MWK45-2
MWK60-2
MWK70-2
MWK45-4
MWK60-4
MWK70-48×9 2
2
2
4
4
445
60
70
45
60
704-3500
4-3100
4-2600
3-5000
3-5000
3-470015
15
15
30
30
403
3
3
2
2
22-8×9
2-8×9
2-8×9
4-8×9
4-8×9
4-8×9類型23 SMWK45-5
SMWK60-5
SMWK70-53 × 4 5
5
545
60
704-1500
4-1500
4-15007
7
71.5
1.5
1.5-
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-類型25
*） 用于無衰減材料時規定的工作范圍上限。實際上，如果頻率增加，則上限急劇降低。
我們還有大量的特殊探頭可以用于在熱表面上的測量（請見29頁）附件描述 類型 備注 探頭電纜（2米）
斜楔
備用件(1件=10片） WP(E)
耦合劑
DGS標尺PKLL2
MPKl2
SWP
ZG-F用于MWB.., MWK..
用于SMWK.
用于MWB.., MWK..
用于MUWB..
見36頁
見35頁
美國GE超聲波探頭
主要特性：
•單晶探頭用于超聲脈沖的發射和接收
•通過水延遲通道進行縱波或橫波的垂直或斜向掃描（非接觸測試）
•完全不漏水的版本設計，或者帶有固定的連接電纜，或者帶有水密封的連接插座（除Microdot外）
•牢固的金屬盒
•用通常采用的線聚焦和點聚焦方式增加了缺陷識別的能力
•使用具有較高頻率的聚合物探頭，從而對非常小的非均勻性具有非常高的探測能力。
探頭分為兩大類：接觸式和水浸式
接觸法探頭
直探頭---單晶
·被檢測件有規則外形和相對光滑的接觸表面
·接觸面或平或曲
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測
·適于穿透厚部件
·延遲塊用以提高近場分辨率
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·通常用于手動檢測
直探頭--雙晶
·接受發射單元用串擾擋板分開
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測
·近表面分辨率好，用于較薄部件
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·通常用于手動檢測
斜探頭
·晶片安裝在內置的或者可更換的斜塊上
·利用折射讓縱波或者橫波沿確定角度傳播
·大多數標準探頭通過模式轉換產生橫波
·適于傾斜缺陷的檢測，如焊縫
·有單晶探頭和雙晶探頭
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·有時用于機械化或自動化檢測
水浸法探頭
水浸探頭
·在水中匹配好，效率高
·適于具有不規則表面的被檢測件
·通常用于機械化或者自動化檢測
·耦合一致性好，檢測重復性高
·大型零件可以采用探頭架，溢流法或者水射流法
·探頭聚焦可以增進效果
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留 言
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