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美國GE水密封體直探頭IAP15.6.2
詳細信息| 詢價留言品牌：美國GE 型號：IAP15.6.2 加工定制：否 用途：用于檢測小缺陷 是否進口：是 加工定制：否 美國GE水密封體直探頭IAP15.6.2
美國GE水密封體直探頭 A-..和IAP-..：用于由金屬和非金屬材料制成的零部件中*小缺陷的探測，有非常高的分辨率，這些缺陷在零部件表面下分布展開：例如半導體基體、電氣插頭和表面保護層中的材料分離、氣孔和雜質等。同樣地，它還可以應用于擴散焊接、電阻焊接和粘合焊接等的測試，以及由陶瓷、粉末金屬、鈦和其它合金制成的預制成型零部件的測試。
特性：極好的分辨率和非常好的缺陷探測性
注釋：
粗體=首選探頭，帶簡短注釋說明
= 提供探頭數據表
= 提供DGS標尺
關于表中數據的解釋，見第4頁中選擇標準。
關于聲束形狀見第37頁中聲束形狀編號。
所有探頭都有點聚焦或線聚焦形式（請注明焦距）。其它設計根據要求確定。類型
[訂購號碼]D [mm] f [MHz] AB [mm] N F [mm] / 近場分辨率1)
[mm]聲束形狀
編號備注 草圖 缺陷探測的高分辨率探頭，UHF插座，特性帶寬：80% IA5.8
IAP5.12.6
IAP10.6.3
IAP15.6.212.7
19
9.5
9.55
5
10
1560-190
115-225
55-130
40-65130
150
75
50ZYB 0.5Ø in 3
ZYB 0.5Ø in 1.5
FBB 0.4Ø in 1.3
FBB 0.4Ø in 1.05-12.7
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-點聚焦
點聚焦
點聚焦類型39
類型40
類型39
類型39帶固定電纜的沖擊波探頭，特性帶寬：100% H1N
H2N20
201
228-156
50-26764
127FBB 5Ø in19
FBB 2Ø in131-20
2-20類型36 H2K
H5K
H10K10 2
5
1014-77
34-190
68-38032
80
160FBB 2Ø in6.5
FBB 2Ø in4
FBB 2Ø in22-10
5-10
10-10類型37 H5M
H10M
H10MP15
H10ML155 5
10
10
108-52
16-104
10-23
10-2320
40
15
15FBB 2Ø in3
FBB 2Ø in1.5
FBB 2Ø in1.5
FBB 2Ø in1.55-5
10-5
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-點聚焦
線聚焦類型38 帶固定電纜的寬帶探頭，特性帶寬：80% L1N
L2N
L2K
L4K
L5K
L5M20
20
10
10
10
51
2
2
4
5
528-156
50-264
14-77
28-154
34-190
8-5263
127
32
64
80
20FBB 2Ø in24
FBB 2Ø in12
FBB 2Ø in6
FBB 2Ø in5
FBB 2Ø in3.5
FBB 2Ø in2.51-20
2-20
2-10
4-10
5-10
5-5類型36
類型36
類型37
類型38
1) 注意第5附件描述 類型 備注 探頭電纜（2米）
H..K進行接觸測試
的延遲線
耦合帽PKI2
承索用于IA..和IAP..
承索
對于干耦合見36頁
探頭分為兩大類：接觸式和水浸式
接觸法探頭
直探頭---單晶
·被檢測件有規則外形和相對光滑的接觸表面
·接觸面或平或曲
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測
·適于穿透厚部件
·延遲塊用以提高近場分辨率
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·通常用于手動檢測
直探頭--雙晶
·接受發射單元用串擾擋板分開
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測
·近表面分辨率好，用于較薄部件
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·通常用于手動檢測
斜探頭
·晶片安裝在內置的或者可更換的斜塊上
·利用折射讓縱波或者橫波沿確定角度傳播
·大多數標準探頭通過模式轉換產生橫波
·適于傾斜缺陷的檢測，如焊縫
·有單晶探頭和雙晶探頭
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·有時用于機械化或自動化檢測
水浸法探頭
水浸探頭
·在水中匹配好，效率高
·適于具有不規則表面的被檢測件
·通常用于機械化或者自動化檢測
·耦合一致性好，檢測重復性高
·大型零件可以采用探頭架，溢流法或者水射流法
·探頭聚焦可以增進效果
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