當前位置：
深圳市泰立儀器儀表有限公司 >
產品中心 >
工業無損檢測 > 美國GE高頻直探頭IAP25.3.2
美國GE高頻直探頭IAP25.3.2
| 產品型號： |
IAP-..25.3.2 |
| 品 牌： |
美國GE |
|
|
| 所 在 地： |
廣東深圳 |
| 更新日期： |
2025-10-22 |
| | 品牌：美國GE | | 型號：IAP-..25.3.2 | | 加工定制：否 | |
| | 用途：適合于壁厚測量 | | 是否進口：是 | | 加工定制：否 | |
美國GE高頻直探頭IAP25.3.2
主要特性：
•單晶探頭用于超聲脈沖的發射和接收
•通過水延遲通道進行縱波或橫波的垂直或斜向掃描（非接觸測試）
•完全不漏水的版本設計，或者帶有固定的連接電纜，或者帶有水密封的連接插座（除Microdot外）
•牢固的金屬盒
•用通常采用的線聚焦和點聚焦方式增加了缺陷識別的能力
•使用具有較高頻率的聚合物探頭，從而對非常小的非均勻性具有非常高的探測能力
主要用途：
通常：通過一個水延遲通道，以可能*好的測試結果復現性，實現流水線或大批量生產零件的小缺陷和*小缺陷以及有缺陷材料組織的半自動和全自動測試。
注釋：
粗體=首選探頭，帶簡短注釋說明
= 提供探頭數據表
= 提供DGS標尺
關于表中數據的解釋，見第4頁中選擇標準。
關于聲束形狀見第37頁中聲束形狀編號。
類型
[訂購號碼] |
D [mm] |
f [MHz] F [mm] |
AB6/1 [mm] |
N / |
FD6 1) [mm] |
聲束形狀
編號 |
草圖 |
| 點聚焦，帶UHF或Microdot連接器 *)；特性帶寬：100% |
IAP-..25.2.0.5
IAP-..25.2.1
IAP-..25.3.1
IAP-..25.3.2
IAP-..50.2.0.3
IAP-..50.2.0.5
IAP-..50.2.1
IAP-..50.3.1
IAP-..50.3.2 |
3
3
5
5
3
3
3
5
5 |
25
25
25
25
50
50
50
50
50 |
9.4-20.6
16-60
20-35
34.5-100
6.6-8.4
10.6-15.8
18.5-41
21.5-29
40-71 |
12.5
25
25
50
7.5
12.5
25
25
50 |
0.25
0.49
0.30
0.59
0.07
0.12
0.25
0.15
0.30 |
-
-
-
-
-
-
-
-
- |
類型F
或
類型FM |
| 非聚焦，帶UHF或Microdot連接器 *)；特性帶寬：100% |
IA-..25.2
IA-..25.3
IA-..50.2
IA-..50.3 |
3
5
3
5 |
25
25
50
50 |
17-86
45-227
33-170
89-455 |
36
99
71
198 |
0.7
1.2
0.7
1.2 |
25-3
25-5
50-3
50-5 |
類型F
或
類型FM |
*) 訂購號碼中的".."是用于根據需要進行的設計，填入下面的字符：F表示是帶UHF連接器的牢固的殼體；FM表示是帶Microdot連接器的輕便的殼體。
1) 請注意第5頁上的定義。
| 附件描述 |
類型 |
備注 |
探頭電纜：
Microdot / BNC
適配器：
BNC插座/ Lemo插頭探頭電纜：
UHF/BNC適配器 |
PKI-S0.75
PKLB1
PKIB0.75
ANP21 |
用于
IA(P)-FM 25/50
用于PKIS..和PKIB..
用于帶UHF和BNC的IA(P) -
F25/50伸縮管 |
應用
•結構規則簡單的大型工件檢測
•鍛件、坯料檢測
•板材、棒材、方型材
•容器、機器零部、外殼
•在高溫下用延遲塊檢測
功能特和優勢
•歐式型號具有可更換的軟保護膜：
– 改善在不平坦或彎曲表面上的耦合
– 延長探頭使用壽命。
– 適用于 DGS 缺陷定量方法
– 提供高溫延遲塊
– Lemo 1 (B..S) 或 Lemo 00 (MB..S) 連接器，標準探頭連接器安裝在側面，頂部接口可選
•美式型號具有可更換的軟保護膜：
– 保護膜可改善不平坦或彎曲表面上的耦合。
– 定期更換軟保護膜可無限期延長探頭的使用壽命。
– 高溫延遲塊可在*高 400°F (200°C) 的表面上進行檢測。
– BNC 連接器，側面或頂部安裝
