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美國GE貝克休斯高溫探頭W60B4GV
詳細信息| 詢價留言品牌：美國GE 型號：W60B4GV 加工定制：否 用途：探傷儀測厚儀探頭 是否進口：是 產地：美國 美國GE貝克休斯高溫探頭W60B4GV
應用
•結構規則簡單的大型工件檢測
•鍛件、坯料檢測
•板材、棒材、方型材
•容器、機器零部、外殼
•在高溫下用延遲塊檢測
功能特和優勢
•歐式型號具有可更換的軟保護膜：
– 改善在不平坦或彎曲表面上的耦合
– 延長探頭使用壽命。
– 適用于 DGS 缺陷定量方法
– 提供高溫延遲塊
– Lemo 1 (B..S) 或 Lemo 00 (MB..S) 連接器，標準探頭連接器安裝在側面，頂部接口可選
•美式型號具有可更換的軟保護膜：
– 保護膜可改善不平坦或彎曲表面上的耦合。
– 定期更換軟保護膜可無限期延長探頭的使用壽命。
– 高溫延遲塊可在*高 400°F (200°C) 的表面上進行檢測。
– BNC 連接器，側面或頂部安裝
TR直探頭SEB KV，可以經受200℃的恒溫作用，如果間歇使用，在短暫地接觸熱的表面后進行冷卻的話，溫度可
以高達600℃。斜探頭W..B.GV可以經受200℃的恒溫作用，如果中斷式地操作，則使用溫度可以高達350℃。類型 f [MHz] b [度] a×b[mm] F N [mm] / 探頭電纜 SEB2KV 2 0 10 15 3-250 SEB4KV 4 0 10 18 2-750 W45B2GV 2 45 10 x 14 35 7-300 W60B2GV 2 60 10 x 14 35 7-280 W70B2GV 2 70 10 x 14 35 7-260 W45B4GV 4 45 10 x 14 70 5-450 W60B4GV 4 60 10 x 14 70 5-425 W70B4GV 4 70 10 x 14 70 5-400 
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