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美國(guó)貝克休斯GE探傷儀粗晶探頭K0.5S

產(chǎn)品型號(hào)：

K0.5S

品牌：

美國(guó)貝克休斯

≧1 只
￥8800.00

所在地：

廣東深圳

更新日期：

2025-10-22

詳細(xì)信息

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	品牌：美國(guó)貝克休斯		型號(hào)：K0.5S		加工定制：否
	用途：探傷儀測(cè)厚儀探頭		是否進(jìn)口：是		產(chǎn)地：美國(guó)

美國(guó)貝克休斯GE探傷儀粗晶探頭K0.5S

探頭分為兩大類：接觸式和水浸式

接觸法探頭
直探頭---單晶
·被檢測(cè)件有規(guī)則外形和相對(duì)光滑的接觸表面
·接觸面或平或曲
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測(cè)
·適于穿透厚部件
·延遲塊用以提高近場(chǎng)分辨率
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·通常用于手動(dòng)檢測(cè)
直探頭--雙晶
·接受發(fā)射單元用串?dāng)_擋板分開
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測(cè)
·近表面分辨率好，用于較薄部件
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·通常用于手動(dòng)檢測(cè)
斜探頭
·晶片安裝在內(nèi)置的或者可更換的斜塊上
·利用折射讓縱波或者橫波沿確定角度傳播
·大多數(shù)標(biāo)準(zhǔn)探頭通過模式轉(zhuǎn)換產(chǎn)生橫波
·適于傾斜缺陷的檢測(cè)，如焊縫
·有單晶探頭和雙晶探頭
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·有時(shí)用于機(jī)械化或自動(dòng)化檢測(cè)

水浸法探頭
水浸探頭
·在水中匹配好，效率高
·適于具有不規(guī)則表面的被檢測(cè)件
·通常用于機(jī)械化或者自動(dòng)化檢測(cè)
·耦合一致性好，檢測(cè)重復(fù)性高
·大型零件可以采用探頭架，溢流法或者水射流法
·探頭聚焦可以增進(jìn)效果

美國(guó)GE粗晶探頭
對(duì)于普通探頭，由于粗晶粒結(jié)構(gòu)所產(chǎn)生的噪聲幅度與小缺陷的回波幅度基本一致，這樣容易造成缺陷漏檢。所以，檢測(cè)粗晶材料時(shí)要選用特殊探頭。有些探頭可以檢測(cè)部分奧氏體焊縫，并得到一些滿意的結(jié)果，這主要取決于被檢測(cè)材料的聲學(xué)特性。