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美國GE貝克休斯探頭IA5.8
詳細信息| 詢價留言品牌：美國GE 型號：IA5.8 加工定制：否 用途：探傷儀測厚儀探頭 是否進口：是 產地：美國 美國GE貝克休斯探頭IA5.8
主要特性
•單晶探頭用于超聲脈沖的發射和接收
•通過水延遲通道進行縱波或橫波的垂直或斜向掃描（非接觸測試）
•完全不漏水的版本設計，或者帶有固定的連接電纜，或者帶有水密封的連接插座（除Microdot外）
•牢固的金屬盒
•用通常采用的線聚焦和點聚焦方式增加了缺陷識別的能力
•使用具有較高頻率的聚合物探頭，從而對非常小的非均勻性具有非常高的探測能力。
探頭分為兩大類：接觸式和水浸式
接觸法探頭
直探頭---單晶
·被檢測件有規則外形和相對光滑的接觸表面
·接觸面或平或曲
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測
·適于穿透厚部件
·延遲塊用以提高近場分辨率
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·通常用于手動檢測
直探頭--雙晶
·接受發射單元用串擾擋板分開
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測
·近表面分辨率好，用于較薄部件
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·通常用于手動檢測
斜探頭
·晶片安裝在內置的或者可更換的斜塊上
·利用折射讓縱波或者橫波沿確定角度傳播
·大多數標準探頭通過模式轉換產生橫波
·適于傾斜缺陷的檢測，如焊縫
·有單晶探頭和雙晶探頭
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·有時用于機械化或自動化檢測
水浸法探頭
水浸探頭
·在水中匹配好，效率高
·適于具有不規則表面的被檢測件
·通常用于機械化或者自動化檢測
·耦合一致性好，檢測重復性高
·大型零件可以采用探頭架，溢流法或者水射流法
·探頭聚焦可以增進效果
美國GE測厚探頭 此探頭具有*佳分辨力可以檢測試塊近表面或者近底面非常小的缺陷在1mm 深度處能夠檢測φ0.3mm的平底孔使用高分辨率超聲探傷儀（如：USIP 12,USIP 20或者KB 6000），可以得到高精度的回波幅值頻率誤差<10%可用于市場上的大多數液浸檢測系統。IA/AP液浸探傷首選探頭 根據國際標準（如：NDT-111-A或者SIM-1K），此探頭具有*佳分辨力可以檢測試塊近表面或者近底面非常小的缺陷在1mm 深度處能夠檢測φ0.3mm的平底孔使用高分辨率超聲探傷儀（如：USIP 12,USIP 20或者KB 6000），可以得到高精度的回波幅值頻率誤差<10%可用于市場上的大多數液浸檢測系統。 IA 5.8
IAP 5.12.6
IAP 10.6.3
IAP 15.6.2測厚首選探頭 短脈沖沖擊波探頭· 高分辨力和靈敏度· 能夠測量的*小厚度為0.2mm（鋼）· 頻率誤差<10%· 可用點聚焦或者線聚焦 H 1N
H 2N
H 2K
H 5K
H 10K
H 5M
H 10M
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