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美國達高特DAKOTA 超聲波測厚儀及探頭ZX PZX 系列
詳細信息| 詢價留言品牌：美國達高特 加工定制：否 型號：ZX PZX 系列 類型：超聲波 測量范圍：0.64 - 508 mm 顯示方式：數字 波形 電源電壓：3 V 外形尺寸：根據自選型號 mm 顯示方式：數字 波形 美國達高特 DAKOTA超聲波測厚儀及探頭 ZX PZX 系列
DAKOTA 超聲波公司是一間專門生產工業上所使用的測厚儀及探傷設備. 儀器是采用超聲波技術,不需將工件損壞就能作出探傷檢查或用作工件厚度或長度測量。
可選型號超聲波測厚儀 ZX-3 配 PT-102-2000 探頭 超聲波測厚儀 ZX-5 配 PT-102-2000 探頭 超聲波測厚儀 ZX-5DL 配 PT-102-2000 探頭 超聲波測厚儀 ZX-6 配 PT-102-2700 探頭 超聲波測厚儀 ZX-6DL 配 PT-102-2700 探頭 超聲波測厚儀 MX-3 配 PT-102-2000 探頭 超聲波測厚儀 MX-5 配 PT-102-2000 探頭 超聲波測厚儀 MX-5DL 配 PT-102-2000 探頭 超聲波測厚儀 MMX-6 配 PT-102-2700 探頭 超聲波測厚儀 MMX-6DL 配 PT-102-2700 探頭 超聲波測厚儀 MMX-6 ER 配 PT-104-9700 探頭 超聲波測厚儀 MMX-6DL ER 配 PT-104-9700 探頭/ 超聲波測厚儀 MMX-7 配 PT-102-2700 探頭 超聲波測厚儀 MVX 配 PT-102-2700 探頭 超聲波測厚儀 CMX 配 PT-102-2900 探頭 超聲波測厚儀 CMXDL 配 PT-102-2900 探頭 超聲波測厚儀 CMXDL+ 配 PT-102-2900 探頭/ 超聲波測厚儀 CMXDL+彩屏 配 PT-102-2900 探頭 汽車專用測厚儀 PR-82 配 PT-102-2000 探頭 水下測厚儀 UMX-2 配 PT-074-2906 水下探頭 超聲波聲速儀 VX 配 PT-102-2000 探頭 標準探頭 PT-102-2000 1.0~152mm/5MHz/晶片 Ø6.35mm 標準高阻抗探頭 PT-102-2700 1.0~152mm/5MHz/晶片 Ø6.35mm 高阻抗探頭 PT-102-2900 1.0~152mm/5MHz/晶片 Ø6.35mm/CT 模式 高阻抗探頭 PT-104-9700 2.54~100mm/3.2-100mm(穿透模式)/3.5MHz/晶片 Ø12.7mm 小管徑探頭 PT-101-2000 1.0~50mm/5MHz/晶片 Ø4.76mm 小管徑高阻抗探頭 PT-101-2700 1.0~50mm/5MHz/晶片 Ø4.76mm 低頻探頭 PT-104-0000 3.8~50.8mm(鑄鐵中)/1MHz/晶片 Ø12.7mm 低頻探頭 PT-102-1000 1.5~100mm/2.25MHz/晶片 Ø6.35mm 超薄探頭 PT-102-3300 0.63~152mm/7.5MHz/晶片 Ø6.35mm 高阻抗探頭 PT-102-3700 穿透模式 5.0~25.4m/7.5MHz/晶片 Ø6.35mm 超厚探頭 PT-104-2000 1.27~508mm/5MHz/晶片 Ø12.7mm 超厚高阻抗探頭 PT-104-2700 1.27~508mm/5MHz/晶片 Ø12.7mm 標準高溫探頭 PT-042-2000 1.0~152mm/340℃/5MHz/晶片 Ø6.35mm 標準高溫高阻抗探頭 PT-042-2700 1.0~152mm/340℃/5MHz/晶片 Ø6.35mm 超厚高溫探頭 PT-044-2000 1.27~508mm/340℃/5MHz/晶片 Ø12.7mm 超厚高溫高阻抗探頭 PT-044-2700 1.27~508mm/340℃/晶片 Ø12.7mm 高溫探頭 PT-212-2001 1.0~152mm/480℃/5MHz/晶片 Ø6.35mm 高溫探頭 PT-214-2001 1.27~508mm/480℃/5MHz/晶片 Ø12.7mm 曲面探頭 PT-104-2120 配 PR-82/1.27~380mm/R=50mm/5MHz 水下探頭 PT-174-2006 1.27~508mm/5MHz/晶片 Ø12.7mm 水下探頭 PT-174-9700 2.54~100mm/3.5MHz/晶片 Ø12.7mm 水下探頭 PT-074-2906 2.54~100mm/5MHz/晶片 Ø12.7mm 高精密超聲波測厚儀 PZX-7 配 PT-402-5507 探頭 高精密超聲波測厚儀 PZX-7DL 配 PT-402-5507 探頭/ 高精密超聲波測厚儀 PX-7 配 PT-402-5507 探頭 高精密超聲波測厚儀 PX-7DL 配 PT-402-5507 探頭 高精密超聲波測厚儀 PVX 配 PT-402-5507 探頭/AB 掃描 高精密超聲波測厚儀 PVX-B 配 PT-402-5507 探頭/B 掃描 延遲線探頭 PT-402-5507 標配探頭 0.15~25.4mm/15MHz 延遲線探頭 PT-402-6507 標配探頭 0.15~19.05mm/20MHz 
深圳市泰立儀器儀表有限公司
- 代理歐美的高科技儀器和設備，其中尤以無損檢測和金相理化設備為主。包括：超聲、渦流、漏磁、磁粉、射線、金相制樣、光譜等等。
材料檢測為產品質量提供了可靠的保證，同時增加了附加成本。但從另一角度考慮這一附加成本，質量保證確實對節約潛在成本提供了有價值的代價。按優化的生產流程您可以獲得幾個關鍵性的好處，提高生產效率，降低失效的危險性，同時延長設備的使用壽命。
無損檢測
電導率測量儀 磁導率測量儀 超聲波硬度計 挺度測試儀 磨耗儀 精密切割機 研磨拋光機 涂層測厚儀 超聲波測厚儀 UT探傷儀 UT/PA 相控陣探傷儀 水浸C掃描系統 磁粉探傷機 移動式磁粉探傷機
便攜式渦流探傷渦流探傷統 x射線成像系統 工業x射線機 x光探傷機 x光洗機 工業x射線實時成像檢測系統 數碼成像系統 自動洗片機
理化檢測
光譜分析儀 | 直讀光譜儀 | 便攜式光譜儀 | 便攜式直讀光譜儀 | 德國光譜儀 | 磨拋機 | 研磨機 | 手動切割機 | 鑲樣機 | 臺式光譜儀 | 自動鑲樣機 | 固定式光譜儀 | 切割機 | 德國貝萊克 | 法國LAMPLAN | 德國belec
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