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美國(guó)泰伯 Taber光學(xué)測(cè)微儀 966A
詳細(xì)信息加工定制：否 類(lèi)型：光學(xué) 品牌：美國(guó)泰伯 型號(hào)：966A 產(chǎn)品別名：光學(xué)測(cè)微儀 產(chǎn)品用途：測(cè)微儀 劃痕觀測(cè)儀 重量：2 kg 外形尺寸：50-120-350 mm 產(chǎn)品用途：測(cè)微儀 劃痕觀測(cè)儀 美國(guó)泰伯 Taber光學(xué)測(cè)微儀 966 966A 966A1
光學(xué)測(cè)微儀 表面測(cè)量
手持便攜式儀器測(cè)量
一定范圍的表面損傷。
光學(xué)千分尺將測(cè)量并評(píng)估寬度或劃痕，裂縫，凹陷，腐蝕，凹痕和其他深度，各種材料都有瑕疵。另外，可以使用量化馬刺和其他小突起的高度。對(duì)于透明材料，此儀器可用于測(cè)量厚度，開(kāi)裂深度，斷裂深度和寬度嵌入的空隙。
簡(jiǎn)單的設(shè)計(jì)可提供準(zhǔn)確的結(jié)果。
易讀的游標(biāo)尺是所有光學(xué)深度的標(biāo)準(zhǔn)配置千分之一，千分之一，千分之一
和十分之一。為了讀取數(shù)據(jù)，操作員旋轉(zhuǎn)千分尺套管直到該區(qū)域的主表面到來(lái)成為焦點(diǎn)。隨后的讀數(shù)在不同的焦點(diǎn)深度以相同的方式制作。根據(jù)型號(hào)，光學(xué)千分尺精確到±0.0002英寸。
適應(yīng)凸，凹和復(fù)合輪廓。
儀器堅(jiān)固耐用，非常適合野外使用應(yīng)用程序。使用可互換的底座之一，幾乎可以測(cè)量任何表面-擋風(fēng)玻璃，機(jī)身，機(jī)身蒙皮，螺旋槳葉片，轉(zhuǎn)子葉片，渦輪葉片，還有更多。
顯示：
光學(xué)測(cè)微儀套件（966A1型）–包括5倍和10倍可互換光學(xué)元件，20倍目鏡單元，標(biāo)線片目鏡單元；另外五個(gè)底座，千分尺燈，可調(diào)光支架和外殼。
光學(xué)測(cè)微儀
表面測(cè)量?jī)x
有兩種型號(hào)：
966型（100功率）
建議用于需要更大工作深度的應(yīng)用。
使用該儀器可以讀取深度為0.665英寸的讀數(shù)。
可以測(cè)量厚度高達(dá)0.9975英寸的透明材料
±0.0005英寸精度。
型號(hào)966A（200電源）
用于初級(jí)平面和簡(jiǎn)單彎曲的標(biāo)準(zhǔn)儀器
表面。深度（在表面下方）讀數(shù)可以達(dá)到0.260英寸
精度在±0.0002英寸以內(nèi)。也會(huì)測(cè)量透明
材料厚度可達(dá)0.390英寸。
型號(hào)966A1
包含以上兩種型號(hào)的設(shè)備。
配件：
三腳架底座（970型）–適用于平坦，簡(jiǎn)單和復(fù)合
彎曲的表面（儀器隨附）
Quadpod Base（971型）–啟用測(cè)量
在凸形和/或凹形不規(guī)則曲面上
偏置三腳架底座（972型）–允許讀數(shù)
與突出障礙物相鄰的平坦或彎曲表面
楔形兩腳架底座（973型）–在平面交點(diǎn)處使用
表面形成至少80°的角度
半透明V型塊底座（974型）–獲得讀數(shù)
從圓形表面或外角，也從平面
鄰近凹陷區(qū)
大型三腳架底座（975型）–用于需要
比三腳架底座更大的支撐區(qū)域，非常適合小零件
檢查
十字線目鏡單元（966AR型）–插入十字線
目鏡單元，千分尺成為光學(xué)比較器
能夠進(jìn)行高達(dá)0.040英寸的精確寬度測(cè)量
精度為0.001英寸（與966A型配合使用）
10x可互換光纖（966AC型）–轉(zhuǎn)換模型
966至966A型
5x可互換光學(xué)元件（966C型）–轉(zhuǎn)換模型
966A至966型
美國(guó)泰伯TABER光學(xué)測(cè)微儀 劃痕觀測(cè)儀 966 966A 966A1 技術(shù)指標(biāo)
966型 966A型
放大倍率 100x 200x
光學(xué)工作距離 0.6650” 0.2600”
（深度測(cè)量）
千分尺工作距離 1.000” 1.000”
材料厚度（透明） 0.9975” 0.3900”
精度 ±0.0005” ±0.0002”
圖像區(qū)域直徑為 0.090英寸 直徑0.060英寸
圖像焦平面 ±0.0002” ±0.0001”
Optical Micrometer 996
Surface Measurement
Handheld, portable instrument measures
a range of surface damage.
The optical micrometer will measure and evaluate the width
or depth of scratches, cracks, pits, corrosion, dents and other
blemishes in a variety of materials. In addition, it can be used
to quantify the height of spurs and other small protrusions.
For transparent materials, this instrument is useful for measuring
thickness, depth of crazing, depth of fractures, and width of
embedded voids.
Simple design provides accurate results.
An easy-to read Vernier Scale is standard on all optical depth
micrometers and is calibrated in thousandths, ten thousandths
and hundred thousandths. To take a reading, the operator rotates
the micrometer thimble until the primary surface of the area comes
into sharp focus. Subsequent readings at varying depths of focus
are made in the same fashion. Depending on model, the optical
micrometer is accurate to ±0.0002”.
Adapts to convex, concave and compound contours.
With a rugged housing, this instrument is ideal for field
applications. Using one of the interchangeable bases,
practically any surface could be measured - windshields,
airframes, fuselage skin, propeller blades, rotor blades,
turbine blades, plus many more.
*Shown: Optical Micrometer Kit (Model 966A1) –
Includes 5x and 10x interchangeable optics, 20x
eyepiece cell, reticle eyepiece cell; five additional
bases, micrometer light, adjustable light
bracket and case.
Optical Micrometer
Surface Measuremen
Available in Two Models:
Model 966 (100 power)
Recommended for applications requiring greater working depth.
Depth readings to 0.665” can be made with this instrument.
Transparent materials up to 0.9975” thick can be measured with
±0.0005” accuracy.
Model 966A (200 power)
The standard instrument used for primary flat and simple curved
surfaces. Depth (below the surface) readings to 0.260” can be
made within ±0.0002” accuracy. Will also measure transparent
material thicknesses up to 0.390”.
Model 966A1
Contains equipment for both models above.
Accessories:
Tripod Base (model 970) – Intended for flat, simple and compound
curved surfaces (supplied with instrument)
Quadpod Base (model 971) – Enables measurements
on convex and/or concave irregular curved surfaces
Offset Tripod Base (model 972) – Permits readings
of flat or curved surfaces adjacent to protruding obstructions
Wedge Bipod Base (model 973) – Used when intersection of planed
surfaces form angles of at least 80°
Translucent V-Block Base (model 974) – Obtains readings
from round surfaces or external angles, also flat surfaces
adjacent to recessed areas
Large Tripod Base (model 975) – Used for applications requiring
a larger support area than the tripod base, ideal for small parts
inspection
Reticle Eyepiece Cell (model 966AR) – By inserting the reticle
eyepiece cell, the micrometer becomes an optical comparator
capable of making accurate width measurements up to 0.040”
to an accuracy of 0.001” (for use with Model 966A)
10x Interchangeable Optic (model 966AC) – converts model
966 to model 966A
5x Interchangeable Optic (model 966C) – converts model
966A to model 966
Specifications
Model 966 Model 966A
Magnification 100x 200x
Optics Working Distance 0.6650” 0.2600”
(depth measurement)
Micrometer Working Distance 1.000” 1.000”
Material Thickness (transparent) 0.9975” 0.3900”
Accuracy ±0.0005” ±0.0002”
Image Area 0.090” dia. 0.060” dia.
Image Focal Plane ±0.0002” ±0.0001”
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留 言
- 聯(lián)系人：牟淑蓉
- 電 話：0755-83981822/82513866
- 手 機(jī)：13662293689
- 傳 真：0755-83986906
- 郵 箱：taili668@vip.163.com
- 郵 編：518172
- 地 址：深圳市龍崗區(qū)龍翔大道9009號(hào)珠江廣場(chǎng)A2棟13D室
- 網(wǎng) 址： https://taili668.cn.goepe.com/
http://www.137xue.net
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產(chǎn)品分類(lèi)
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工業(yè)無(wú)損檢測(cè)
- 鈷磁儀
- 電導(dǎo)率儀
- 磁導(dǎo)率儀
- 熱分析儀
- 磁粉探傷儀
- 渦流探傷儀
- 點(diǎn)焊檢測(cè)儀
- 超聲波測(cè)厚儀
- 超聲波探傷儀
- 超聲波硬度計(jì)
- 漏磁檢測(cè)系統(tǒng)
- AR視覺(jué)質(zhì)量檢查
- CR數(shù)碼成像系統(tǒng)
- 流變儀
- 敲擊儀
- 光譜儀
- 測(cè)振儀
- 試驗(yàn)機(jī)
- 粗糙度儀
- 工業(yè)相機(jī)
- 探傷儀探頭
- 測(cè)厚儀探頭
- 硬度計(jì)探頭
- 涂層測(cè)厚儀
- 工業(yè)內(nèi)窺鏡
- 電火花檢測(cè)儀
- 鈍化膜測(cè)試儀
- 附著力測(cè)試儀
- 相控陣探傷儀
- 球化率檢測(cè)儀
- 地下管線探測(cè)
- 脈沖發(fā)生接收器
- 螺栓應(yīng)力測(cè)試儀
- 鐵素體含量測(cè)試儀
- 動(dòng)態(tài)熱機(jī)械分析儀
- X射線數(shù)字成像檢測(cè)系統(tǒng)
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計(jì)量測(cè)試儀
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環(huán)境暖通測(cè)試
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光纖通信測(cè)試
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電子電工測(cè)試儀
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其他
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